Please use this identifier to cite or link to this item:
http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/3184| Title: | Identification of defect structures through infrared and x-ray absorption spectroscopies first principles |
| Other Titles: | การระบุโครงสร้างของความบกพร่องจากสเปกตรัมการดูดกลืนแสงย่านใต้แดงและรังสีเอ็กซ์: การคำนวณแบบเฟิสต์พรินซิเพิล |
| Authors: | Jiraroj T-Thienprasert |
| Keywords: | X-ray;Spectroscopy;Infrared spectroscopy;First principles |
| Issue Date: | 2008 |
| Publisher: | School of Physics, Institute of Science Suranaree University of Technology |
| URI: | http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/3184 |
| Appears in Collections: | วิทยานิพนธ์ (Thesis) |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| abstract.pdf | Abstract | 7.95 MB | Adobe PDF | View/Open |
| Jiraroj thesis.pdf | Fulltext | 7.92 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.