1. Suranaree University of Technology
  2. Institutes
  3. Institute of Science
  4. School of Physics
  5. วิทยานิพนธ์ (Thesis)
Please use this identifier to cite or link to this item: http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/3184
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorJiraroj T-Thienprasert-
dc.date.accessioned2010-02-06T05:48:44Z-
dc.date.available2010-02-06T05:48:44Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.urihttp://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/3184-
dc.format.extent8111348 bytes-
dc.format.extent8139694 bytes-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoenen
dc.publisherSchool of Physics, Institute of Science Suranaree University of Technologyen
dc.subjectX-rayen
dc.subjectSpectroscopyen
dc.subjectInfrared spectroscopyen
dc.subjectFirst principlesen
dc.titleIdentification of defect structures through infrared and x-ray absorption spectroscopies first principlesen
dc.title.alternativeการระบุโครงสร้างของความบกพร่องจากสเปกตรัมการดูดกลืนแสงย่านใต้แดงและรังสีเอ็กซ์: การคำนวณแบบเฟิสต์พรินซิเพิลen
dc.typeThesisen
dc.degree.nameDoctor of Philosophy in Physics-
dc.degree.levelDoctor's Degree-
Appears in Collections:วิทยานิพนธ์ (Thesis)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
abstract.pdfAbstract7.95 MBAdobe PDFView/Open
Jiraroj thesis.pdfFulltext7.92 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.