Please use this identifier to cite or link to this item:
http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/3184
Title: | Identification of defect structures through infrared and x-ray absorption spectroscopies first principles |
Other Titles: | การระบุโครงสร้างของความบกพร่องจากสเปกตรัมการดูดกลืนแสงย่านใต้แดงและรังสีเอ็กซ์: การคำนวณแบบเฟิสต์พรินซิเพิล |
Authors: | Jiraroj T-Thienprasert |
Keywords: | X-ray;Spectroscopy;Infrared spectroscopy;First principles |
Issue Date: | 2008 |
Publisher: | School of Physics, Institute of Science Suranaree University of Technology |
URI: | http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/3184 |
Appears in Collections: | วิทยานิพนธ์ (Thesis) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
abstract.pdf | Abstract | 7.95 MB | Adobe PDF | View/Open |
Jiraroj thesis.pdf | Fulltext | 7.92 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.