Please use this identifier to cite or link to this item:
https://sutir.sut.ac.th/jspui/handle/123456789/3184
| Title: | Identification of defect structures through infrared and x-ray absorption spectroscopies first principles |
| Other Titles: | การระบุโครงสร้างของความบกพร่องจากสเปกตรัมการดูดกลืนแสงย่านใต้แดงและรังสีเอ็กซ์: การคำนวณแบบเฟิสต์พรินซิเพิล |
| Authors: | Jiraroj T-Thienprasert |
| Keywords: | X-ray;Spectroscopy;Infrared spectroscopy;First principles |
| Issue Date: | 2008 |
| Publisher: | School of Physics, Institute of Science Suranaree University of Technology |
| URI: | http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/3184 |
| Appears in Collections: | วิทยานิพนธ์ (Thesis)
|
| ลงชื่อ/Signature _______________________________ |
| รหัสนักศึกษา/Student ID _______________________ |
| วันที่/Day ______ เดือน/Month _________________ ปี/Year _______ |
