Please use this identifier to cite or link to this item: http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/9896
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorชาญชัย ทองโสภาen_US
dc.contributor.authorวิทวัส วสุเสถียรen_US
dc.date.accessioned2023-12-12T05:43:22Z-
dc.date.available2023-12-12T05:43:22Z-
dc.date.issued2566-
dc.identifier.urihttp://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/9896-
dc.language.isothen_US
dc.publisherสาขาวิชาวิศวกรรมอิเล็กทรอนิกส์ สำนักวิชาวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารีen_US
dc.subjectคุณสมบัติไดอิเล็กตริกen_US
dc.subjectข้าว--การปลอมปนen_US
dc.subjectข้าว--การตรวจสอบen_US
dc.subjectการตรวจสอบข้าวen_US
dc.titleการตรวจสอบข้าวปลอมปนด้วยค่าคุณสมบัติไดอิเล็กตริกen_US
dc.title.alternativeContaminated rice inspection by using dielectric propertyen_US
dc.typeThesisen_US
dc.degree.nameวิศวกรรมศาสตรดุษฎีบัณฑิต-
dc.degree.levelปริญญาเอก-
dc.degree.disciplineวิศวกรรมไฟฟ้า-
dc.degree.grantorมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี-
Appears in Collections:วิทยานิพนธ์ (Thesis)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Abstract.pdfบทคัดย่อ1.37 MBAdobe PDFView/Open
Fulltext.pdfเอกสารฉบับเต็ม7.42 MBAdobe PDFView/Open


Items in SUTIR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.