การปรับปรุงวิธีการทดสอบค่าความจุไฟฟ้าในกระบวนการประกอบชุดหัวเขียน-หัวอ่านข้อมูล

Please use this identifier to cite or link to this item: http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/8811

Title:	การปรับปรุงวิธีการทดสอบค่าความจุไฟฟ้าในกระบวนการประกอบชุดหัวเขียน-หัวอ่านข้อมูล
Other Titles:	Improving method of capacitance testing in head stack assembly operation
Authors:	พิมพ์มาดา โสภณ
Keywords:	หัวอ่านฮาร์ดดิสก์--การทดสอบ;ฮาร์ดดิสก์ไดร์--การวิเคราะห์
Issue Date:	2563
Publisher:	สาขาวิชาวิศวกรรมการจัดการพลังงาน สำนักวิชาวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
URI:	http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/8811
Appears in Collections:	วิทยานิพนธ์ (Thesis)

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Abstract.pdf	บทคัดย่อ	2.14 MB	Adobe PDF	View/Open
Fulltext.pdf	เอกสารฉบับเต็ม	5.32 MB	Adobe PDF	View/Open