Please use this identifier to cite or link to this item: http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/8342
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorพนมศักดิ์ มีมนต์-
dc.contributor.authorโจโวโน วิดจายา-
dc.date.accessioned2020-07-10T09:03:41Z-
dc.date.available2020-07-10T09:03:41Z-
dc.date.issued2562-
dc.identifier.urihttp://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/8342-
dc.description.sponsorshipได้ทุนอุดหนุนการวิจัยจากมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี ปีงบประมาณ พ.ศ.2560en_US
dc.language.isothen_US
dc.publisherสาขาวิชาฟิสิกส์ สำนักวิชาวิทยาศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารีen_US
dc.relation.ispartofseriesSUT1-107-60-12-17;-
dc.subjectฟิล์มบาง--การวิเคราะห์en_US
dc.subjectระบบเชิงแสง--การออกแบบen_US
dc.subjectระบบเชิงแสง--การพัฒนาen_US
dc.titleรายงานการวิจัยการออกแบบและพัฒนาระบบเชิงแสงของการวัดภูมิลักษณะความหนาสำหรับการวิเคราะห์วัสดุฟิล์มบางแบบไม่สัมผัสen_US
dc.title.alternativeDesign and development of optical thickness topography technique for non-contact characterization of thin film materialsen_US
dc.typeResearchen_US
Appears in Collections:รายงานการวิจัย (Research reports)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Abstract.pdfบทคัดย่อ282.99 kBAdobe PDFView/Open
Fulltext.pdfเอกสารฉบับเต็ม1.73 MBAdobe PDFView/Open


Items in SUTIR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.