Please use this identifier to cite or link to this item: http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/8342
Title: รายงานการวิจัยการออกแบบและพัฒนาระบบเชิงแสงของการวัดภูมิลักษณะความหนาสำหรับการวิเคราะห์วัสดุฟิล์มบางแบบไม่สัมผัส
Other Titles: Design and development of optical thickness topography technique for non-contact characterization of thin film materials
Authors: พนมศักดิ์ มีมนต์
โจโวโน วิดจายา
Keywords: ฟิล์มบาง--การวิเคราะห์;ระบบเชิงแสง--การออกแบบ;ระบบเชิงแสง--การพัฒนา
Issue Date: 2562
Publisher: สาขาวิชาฟิสิกส์ สำนักวิชาวิทยาศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
Series/Report no.: SUT1-107-60-12-17;
URI: http://sutir.sut.ac.th:8080/jspui/handle/123456789/8342
Appears in Collections:รายงานการวิจัย (Research reports)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Abstract.pdfบทคัดย่อ282.99 kBAdobe PDFView/Open
Fulltext.pdfเอกสารฉบับเต็ม1.73 MBAdobe PDFView/Open


Items in SUTIR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.